日時: 2007年11月16日(金)
場所: 東北大学 多元物質科学研究所 科学計測研究棟(N棟) 3階セミナー室
参加費: 無料 (＊参加申し込みの必要はごさいません)
後援: 東北大学 多元物質科学研究所 附属先端計測開発センター
プログラム
10:00-10:10
開会挨拶 東北大学多元研 山本正樹
10:10-10:40
超臨界二酸化炭素中の吸着過程のin-situモニタリング 山梨大学 近藤英一
10:40-11:10
pm感度エリプソメーターによる軟X線多層膜ミラーの成膜モニタリング 東北大学多元研 津留俊英, 山本正樹
11:10-11:40
自動消光型エリプソメータを用いた単結晶銀表面上の希ガス物理吸着層の成長過程の観察 東北大学多元研 戸坂亜希
11:40-12:10
反射率差分光による絶縁体－半導体界面の構造評価と形成プロセス制御
産業技術総合研究所 エレクトロニクス研究部門 安田哲二
12:10-13:30
昼食、次回研究会・分光エリプソメトリー国際会議について
13:30-14:00
液晶評価のためのミュラー行列計測法 東京農工大学 大谷幸利
14:00-14:30
全反射エリプソメトリーを用いた液晶配向転移ダイナミクスの観察 テクノ・シナジー 田所利康
14:30-15:00
偏光解析を用いた液晶デバイスパラメータの測定 東北大学 大野友嗣, 石鍋隆宏, 宮下哲哉, 内田龍男
15:00-15:15
休憩
15:15-15:45
チャネルド分光偏光計測 ～snapshotな偏光計測法～ 北海道大学 岡和彦
15:45-16:15
Four Detectors Polarimeter の開発と干渉計測への応用 東京工芸大学 川畑州一
16:15-16:45
フォトニック結晶アレイを用いた偏光計測と応用
1株式会社フォトニックラティス, 2仙台応用情報学研究振興財団, 1佐藤尚, 1川嶋貴之, 1井上喜彦, 1,2川上彰二郎