日時: 2008年11月28日(金)
場所: 北海道大学 低温科学研究所 講堂
参加費: 無料
プログラム
12:50-13:00
開会挨拶 北海道大学 大学院工学研究科 岡 和彦
13:00-13:40
光CD計測(Scatterometry) キヤノン株式会社 基盤技術開発本部 精密技術開発センター 稲秀樹
13:40-14:20
分光エリプソメトリを用いたGaN上の“1分子層厚”InNの成長メカニズム評価
千葉大学 大学院工学研究科 橋本直樹, 齊藤英幸, 崔成伯, 石谷善博, 吉川明彦
14:20-15:00
過冷CoPd融液における極カー効果測定の試み
宇宙航空研究開発機構 宇宙科学研究本部 宇宙環境利用科学研究系 樋口健介, 稲富裕光
15:00-15:40
偏光測定による液晶表示器諸パラメータの測定
シンテック株式会社 北村道夫
15:40-15:55
休憩
15:55-16:35
最近の偏光測定の動向 ～高精度複屈折測定、分光偏光計や新しいアプリケーションについて～
株式会社東京インスツルメンツ 分光システムグループ 島田竜太郎
16:35-17:15
Axometrics社ミュラー行列偏光計の測定原理と最近の応用
株式会社オプトサイエンス 森田道拓
17:15-17:55
氷の表面構造を見る ～光学測定の応用～
北海道大学 低温科学研究所 古川義純
18:00-
見学 低温科学研究所 雪氷新領域部門(古川研究室)