日本光学会年次学術講演会 Optics & Photonics Japan 2010
偏光計測・制御技術研究グループ企画「進化する偏光の計測技術」
-偏光を調べて何がわかる/どうやって測る-
日程: 2010年11月9日(火) 9:30～12:35
場所: 中央大学 駿河台記念館 B会場
プログラム
9:30 - 9:40
「イントロダクトリー・トーク」
北大院工 岡 和彦
9:40 - 10:05
「電磁場解析による散乱・回折光の偏光計算」
大阪府立大学工学研究科 菊田 久雄, 水谷 彰夫
10:05 - 10:30
「透過型分光Four Detector Polarimeter」
東京工芸大学, 東北大多元研, テクノシナジー
川畑 州一, 津留 俊英, 田所 利康
10:30 - 10:55
「チャネルド偏光計測法の展開」
北大院工 岡 和彦
10:55 - 11:10
休憩
11:10 - 11:35
「白色光偏光ライダーの開発」
レーザー総研, 阪大院理, 阪大レーザー研
染川 智弘, 山中 千博, 藤田 雅之
11:35 - 12:00
「トポロジカルな偏光現象と計測への応用」
埼玉医科大学 若山 俊隆
12:00 - 12:25
「その場偏光解析によるnm周期軟X線多層膜成膜のピコメーター感度モニタリング」
東北大多元研 津留 俊英, 山本正樹
12:25 - 12:35
「クロージング・リマーク」
宇都宮大学CORE 大谷 幸利