「第6回研究会」
日程: 2011年5月20日(金)10:30～17:00
場所: 宇都宮大学オプティクス教育研究センター
4階コラボレーションルーム(陽東キャンパス内)
プログラム
開会挨拶
宇都宮大学 オプティクス教育研究センター 大谷 幸利
チュートリアル.
10:40-12:00
MSPI and other Polarimeters
Univ.of Arizona, College of Optical Sciences, Prof. Russell Chipman
The Multispectral Polarimetric Imager is a prototype polarimeter optimized for the measurement of aerosols in the atmosphere from space. A new UV imaging Mueller matrix polarimeter will also be described. New method polarization ray tracing program, Polaris-M has been developed for polarimeter simulation and other applications.
*Russell Chipman* is a Professor of Optical Sciences at the University of Arizona, Tucson AZ. He runs the Polarization Laboratory which performs measurements and simulations of polarization elements, liquid crystals, and polarization aberrations. He received his BS from MIT and Ph. D. in Optical Science from the University of Arizona. Prof. Chipman is a Fellow of SPIE and OSA. In 2007, he received SPIE's G. G. Stokes Award for Polarization.
12:00-13:00
昼食
13:00-13:40
偏光を利用した計測系・事例紹介 半導体露光装置のウエハ用アライメント計測系
キヤノン 稲秀樹，鈴木章義
1. 13:40-14:00
植物葉による散乱光の偏光分布特性
山梨大学大学院 金 蓮花
2. 14:00-14:20 [話題提供]
PLZTの全偏光特性の電圧依存性
徳島大学 水谷 康弘
3. 14:20-14:40
高精度、分光、画像偏光測定例の紹介
東京インスツルメンツ 島田 竜太郎
4. 14:40-15:00
偏光イメージングカメラを用いた位相シフト法による移動計測
宇都宮大学 喜入 朋宏
5. 15:00-15:20
High-precision characterization of textured a-Si:H/c-Si heterojunction solar cell structures by spectroscopic ellipsometry (分光エリプソメトリーによるテクスチャーa-Si/c-Siヘテロ接合太陽電池構造の高精度評価)
岐阜大学 松木 伸行
6. 15:20-15:40
分光エリプソメトリーによるフォトドーピングの観察
筑波技術大学 村上佳久
15:40-15:50
クロージングリマークス
日本光学会・偏光計測制御グループ代表 川畑州一(東京工芸大学)
16:00-17:00
宇都宮大学 オプティクス教育研究センター見学
17:30-19:30
宇都宮駅周辺で懇親会(詳細は追ってご連絡いたします)