偏光計測に関心をお持ちの研究者，技術者，学生の皆様のご参加をお待ちしております．
なお，当日はチュートリアルとしてフランスのEcole Polytechnique, CNRSからミュラー行列エリプソメトリーと，イタリアのInstitute of Inorganic Methodologies and of Plasmas, IMIP-CNRからグラフィンとプラズモニクス：実時間分光偏光計のお話を予定しております．
プログラムPDF
- 日程: 2012年6月29日金曜日 10:15-17:30
- 場所: 株式会社 堀場製作所 東京セールスオフィス
東京都千代田区神田淡路町二丁目6番（神田淡路町二丁目ビル)
ホームページをご覧ください．
http://www.horiba.com/jp/contact-us/worldwide-locations/asia-oceania/japan/horiba-ltd/tokyo-branch/
- 参加費: 一般3,000円，学生300円
- 参加申込締切: 6月22日(金)
参加をご希望の方は，以下の参加申込書に必要事項を明記の上，
sales.hor(at)jp.horiba.com
宛にお申し込み下さい．
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第8回偏光計測研究会 参加申込書
●ご氏名:
●ご所属:
●ご連絡先:
●懇親会：ご出席・ご欠席
●堀場製作所東京分析センターご見学：希望する・希望しない
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【懇親会】
研究会後、18:00より開催いたします．
場所：トラットリア カンティーニ 神田淡路町店
http://kantini2008.net/index.html
千代田区神田美土代町11-1 神田KMビルB1
参加費：一般4,500円，学生3,000円
【堀場製作所東京分析センター見学】
昼食休憩中の13:15より企画いたしますので，ご希望の方は，参加申込の際に合わせてお申込み下さい．
堀場製作所東京分析センターについては，以下URLを参照願います．
http://www.horiba.com/jp/scientific/application-center-jp/introduction/
プログラム
- 10:15-10:20
開会の辞
- 10:20-11:20
チュートリアル1: Mueller ellipsometry: Basic Principles, Instrumentation and Applications
E. Garcia-Caurel, R. Ossikovski, A. de Martino (LPICM, Ecole Polytechnique, CNRS, France)
予稿PDF
- 11:20-11:30
休憩
- 11:30-12:30
チュートリアル2: Graphene and Plasmonics: the Nanoscale Challenges for Real-time Spectroscopic Ellipsometry
Maria Losurdo (Institute of Inorganic Methodologies and of Plasmas, IMIP-CNR, via Orabona 4, 70126 Bari, Italy)
予稿PDF
- 12:30-14:00
昼食休憩
13:15-事前申込の方のみ，堀場製作所東京分析センター見学
- 14:00-14:30
講演1: High-speed透過型Four Detector Polarimeterの開発
川畑州一1, 津留俊英2, 田所利康3（東京工芸大1, 東北大多元研2, テクノシナジー3)
- 14:30-15:00
講演2: 半連続金属膜近傍における半導体ナノ結晶の発光遷移特性
中村俊博, 古田和也, 安達定雄(群馬大学大学院工学研究科)
- 15:00-15:30
講演3: Real-time monitoring of optical anisotropy in the growth of PEDOT:PSS composite by electrospray deposition (ESD) using spectroscopic ellipsometry for crystalline Si heterojunction solar cells
日當大我, 渡辺恭平, 石川良, 上野啓司, 白井肇(埼玉大理工) - 15:30-15:50
休憩
- 15:50-16:20
講演4: 斜入射検出器を用いた真空紫外エリプソメータによるストークス・パラメータおよび光学定数測定
齋藤輝文1, 尾崎恭介2, 福井一俊2, 岩井浩紀2, 山本晃司3, 三宅秀人4, 平松和政4(東北工大工1, 福井大工2, 福井大遠赤3, 三重大工4)
- 16:20-16:50
講演5: イオン液体のソフト界面の分光エリプソメトリー
西直哉, 粕谷浩二, 大神諒, 垣内隆(京大院工)
- 16:50-17:20
講演6: 高分子/液晶ホログラフィック格子が有する光学異方性のθ-2θ分光回折法による解析
垣内田洋*, 吉村和記, 田澤真人, 荻原昭文†(産総研、神戸高専†)
- 17:20-17:30
閉会の辞
- 18:00-
懇親会
第8回偏光計測研究会
事務局: ナタリア ナバトバ-ガバイン
株式会社堀場製作所 東京セールスオフィス内
E-mail: sales.hor(at)jp.horiba.com